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Birefringence and strain distribution analysis in silicon photonics structures
Birefringence and strain distribution analysis in silicon photonics structures
Data di pubblicazione: 1 Gen 2016
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Convegno
Fonte dati: ARCHIVIO
Autori:
Gabriele Bolognini
Fonte
Materials.it 2016, Materials Science and Technology, Catania, Italy
ID archivio
398f9fb60365fd78de28f9dc89c78dd7
Riferimenti
Pages: 363
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