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Three-Dimensional Analysis of Phosphorus-Doped Si Nanocrystals Embedded in SiO2 Matrix by Atom Probe Tomography

Data di pubblicazione: 1 Set 2016

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ConvegnoFonte dati: ARCHIVIO
Autori: Gabriele Seguini, Michele Perego
Editore
The Japan Society of Applied Physics
Fonte
JSAP Annual Meetings Extended Abstracts The 77th JSAP Autumn Meeting 2016
ID archivio
d14b6a5e29bb622a044493ec1051725c
Riferimenti
Pages: 1841-1841
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