Quantitative 3D characterization of semiconductor nanostructures using electron-holographic tomography IRIS IRIS Home Sfoglia Macrotipologie & tipologie Autore Titolo Riviste Serie IT Italiano Italiano English English LOGIN 1.IRIS 2.UNIBO 3.4 - Contributo in Atti di convegno 4.4.02 Riassunto (Abstract) Quantitative 3D characterization of semiconductor nanostructures using electron-holographic tomography POZZI, GIULIO; 2009 Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC) Titolo del volume MC 2009 Pagina iniziale 79 Pagina finale 80 Tutti gli autori Daniel Wolf; Axel Lubk; Andreas Lenk; Hannes Lichte; Giulio Pozzi; Paola Prete; Nico Lovergine Appare nelle tipologie: 4.02 Riassunto (Abstract) File in questo prodotto: Eventuali allegati, non sono esposti I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione. Utilizza questo identificativo per citare o creare un …