Roughness evolution in the amorphous-crystalline interface during solid phase epitaxy of SiGe films

Data di pubblicazione: 1 Gen 2006

ConvegnoFonte dati: ARCHIVIO

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Editore
E-MRS
Fonte
European Materials Research Society Spring Meeting 2006
ID archivio
d3a8f10bd63ca7a227414cff0c41c7e4
Riferimenti
Pages: xxx-xxx