Vai al contenuto
+39 095 59 68 211
Istituto di Microelettronica e Microsistemi
Facebook-f
Instagram
Linkedin-in
Youtube
IMM
Chi siamo
Sede Principale
Sedi secondarie
Agrate Brianza
Catania Università
Lecce
Messina
Roma
SETTORI DI RICERCA
Micro e nanoelettronica
Materiali e dispositivi funzionali
Fotonica
TECNOLOGIE E INFRASTRUTTURE
Sintesi e micro-nanofabbricazione
Caratterizzazione
Modellazione e simulazione
PROGETTI
PUBBLICAZIONI
PEOPLE
LAVORA CON NOI
Menu
IMM
Chi siamo
Sede Principale
Sedi secondarie
Agrate Brianza
Catania Università
Lecce
Messina
Roma
SETTORI DI RICERCA
Micro e nanoelettronica
Materiali e dispositivi funzionali
Fotonica
TECNOLOGIE E INFRASTRUTTURE
Sintesi e micro-nanofabbricazione
Caratterizzazione
Modellazione e simulazione
PROGETTI
PUBBLICAZIONI
PEOPLE
LAVORA CON NOI
NEWS
PUBBLICAZIONI
Home
»
Pubblicazioni
»
Machine Learning-Based Anomaly Prediction for Smart Manufacturing
Machine Learning-Based Anomaly Prediction for Smart Manufacturing
Data di pubblicazione: 28 Giu 2022
← Torna alle pubblicazioni
conference-paper
Fonte dati: OPENALEX
Tipo OpenAlex: conference-paper
Accesso chiuso
Autori:
Giovanni Diraco
,
Pietro Aleardo Siciliano
,
Alessandro Leone
Fonte
Lecture notes in electrical engineering
Pagine
239-244
Citazioni
0
ID archivio
d768c120a168f65afe9321af393938a6
Riferimenti
Pages: 239-244
Apri pubblicazione