Evolution of the liquid/solid interface roughness in Si1-xGex layers processed by nanosecond laser annealing

Rémi Demoulin; Richard Daubriac; S. Kerdilès; L. Dagault; O. Adami; Damiano Ricciarelli; Jean‐Michel Hartmann; F. Chiodi; Antonio Massimiliano Mio; Mathieu Opprecht; E. Scheid; Pablo Acosta-Alba; D. Débarre; A. La Magna; Fuccio Cristiano

doi:10.1016/j.apsusc.2024.161982

RivistaFonte dati: OPENALEXTipo OpenAlex: articleOpen Access

Autori: Rémi Demoulin, Richard Daubriac, S. Kerdilès, L. Dagault, O. Adami, Damiano Ricciarelli, Jean‐Michel Hartmann, F. Chiodi, Antonio Massimiliano Mio, Mathieu Opprecht, E. Scheid, Pablo Acosta-Alba, D. Débarre, A. La Magna, Fuccio Cristiano

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Fonte

Applied Surface Science

Volume

684

Pagine

161982

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