Type:
Conference
Description:
Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs / D. Giubertoni; E. Iacob; M. Bersani; M. Anderle; R. Trotta; A. Polimeni; M. Capizzi; F. Martelli; S. Rubini. - (2009). ((Intervento presentato al convegno SIMS XVII - 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry tenutosi a Toronto, Canada nel da 09/14/2009 a 09/18/2009 … Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte di FBK.
Publisher:
Publication date:
1 Jan 2009
Biblio References:
Origin:
SIMS XVII-17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry