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Type: 
Conference
Description: 
Proceedings of the Eighteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XVIII, Riva Del Garda, Trento, Italy, September 18 - 23, 2011 / E. Napolitani; D. Giubertoni; M. Bersani; M. Anderle; A. Licciardello. - In: SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS. - ISSN 1096-9918. - 45(2013). ((Intervento presentato al convegno 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS XVIII tenutosi a Riva del Garda, Italy nel da 09/18/2011 a 09/23/2011 … Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte di FBK … Non ci sono file associati a questo prodotto … I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Publisher: 
John Wiley and Sons
Publication date: 
1 Jan 2013
Authors: 

E Napolitani, Damiano Giubertoni, Massimo Bersani, Mariano Anderle, A Licciardello

Biblio References: 
Volume: 45
Origin: 
18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry-SIMS XVIII