MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors IRIS IRIS Home Sfoglia Macrotipologie & tipologie Autore Titolo Riviste Serie IT Italiano Italiano English English LOGIN 1.IRIS 2.SIARI UNIME 3.14.a Contributo in Rivista 4.14.a.1 Articolo su rivista MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors TORRISI, Lorenzo; 2014-01-01 Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC) Appare nelle tipologie: 14.a.1 Articolo su rivista File in questo prodotto: Non ci sono file associati a questo prodotto. Pubblicazioni consigliate Caricamento pubblicazioni consigliate I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione. Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11570/3066034 Attenzione Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti …