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During the last International Reliability Physics Symposium (IRPS 2021), held as virtual event on 21-24 March 2021, CNR-IMM researchers, in collaboration with STMicroelectronics, reported an interesting investigation on the impact of defects and
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Giuseppina Pace, Michele Serri, Antonio Esau del Rio Castillo, Alberto Ansaldo, Simone Lauciello, Mirko Prato, Lea Pasquale, Jan Luxa, Vlastimil Mazánek, Zdenek Sofer, Francesco Bonaccorso