2012 | IMM Container

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Fully Ion Implanted Vertical pin Diodes on High Purity Semi-Insulating 4H-SiC Wafers

Roberta Nipoti, Anindya Nath, Yong Lai Tian, Fabrizio Tamarri, Francesco Moscatelli, Pietro de Nicola, Mulpuri V Rao

2012-01-01

Biblio references: Volume: 717 Pages: 985-988

Origin: Materials Science Forum
Sicurezza alimentare e tecnologia casearia tradizionale nei paesi in via di sviluppo: Wagashi il caso studio.

F La Terra, S Mirabella, G Belvedere, M Caccamo

2012-01-01

Biblio references:

Origin: ALTRIFORMAGGI

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