Marcello Cioni, Patrick Fiorenza, Fabrizio Roccaforte, Mario Saggio, S Cascino, A Messina, Vincenzo Vinciguerra, Michele Calabretta, Alessandro Chini
Biblio references: Pages: 5B. 3-1-5B. 3-6
Origin: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)